DDR Memory IC Testing Solution--DDR Test Fixture

1.Clamshell structure,easy operation, zero abrasion,patented No:ZL 2012 2 0056976.7

2.Pusher floatable,make GCR longer life span,compatible different thickness of IC
3.rame is changeable and compatible different IC size (width≤13MM length≤16MM)

4.the thickness of golden on connecting finger  is 10 times (30 µ m)of the common PCB,make sure better contact and abrasive  resistance
5.GCR reduce the transmission distance between IC and PCB,stable performance, max frequency up to 2000MHZ,conenient on GCR replacement, low cost.
6.New design,thinner and could be tested directly without transfer trough on the testing platform.reduce misdetect rate.